Skip to Content.

fizinfo - [Fizinfo] Ortvay kollokvium

fizinfo AT lists.kfki.hu

Subject: ELFT HÍRADÓ

Text archives


[Fizinfo] Ortvay kollokvium


Chronological Thread 
  • From: Szommer Peter <szpl AT metal.elte.hu>
  • To: fizinfo AT lists.kfki.hu
  • Subject: [Fizinfo] Ortvay kollokvium
  • Date: Fri, 04 Oct 2013 08:43:29 +0200
  • List-archive: <http://mailman.kfki.hu/pipermail/fizinfo>
  • List-id: ELFT HÍRADÓ <fizinfo.lists.kfki.hu>

ELTE Fizikai Intézet

ORTVAY KOLLOKVIUM

2013. október 10., csütörtök, 15:00-kor
Az ELTE Pázmány Péter s. 1/A alatti épületében
földszinti 0.81 előadóban

Lábár János
(ELTE, Anyagfizikai Tanszék)

,,Nanoskálájú szerkezet-jellemzés elektrondiffrakció segítségével"


Kivonatos ismertetés:
A transzmissziós elektronmikroszkópban (TEM) vizsgált vékonyrétegekben (t<200nm) az 1um laterális kiterjedésű szemcse már gyönyörű egykristálynak számít. Megfelelően preparált (preparálható) TEM mintákban a 100nm-es szemcsék egykristály módszerekkel jellemezhetők. Az elektronok többszörös koherens (dinamikus) szóródásában rejlő információt hasznosító konvergens sugaras elektrondiffrakció (CBED) felhasználásával szerkezetek finomíthatók, egyes elektronpályák megjeleníthetőek és lefényképezhető egyes tiltott elektronállapotok eloszlása (E-k).

A sub-100nm-es mérettartományban a krisztallitok halmaza minősíthető pordiffrakcióval. Az egyszerűbb esetek minőségi analízisén (fázis-azonosításon) túlmenő mennyiségi fázis analízis a diffrakciós vonalak intenzitásainak mérésén alapul, amit elektronok szóródásakor több hatás befolyásol lényegesen, mint a röntgensugarak, vagy neutronok diffrakciója esetén. Az atomi pozíciók, betöltöttség és a preferált orientáció-eloszlás (textúra) az összes diffrakciós módszernél alapvető az intenzitások számításánál. Elektronok esetén azonban a dinamikus szórás is nagyon érzékenyen változtatja az egyes diffrakciós vonalak relatív intenzitását és a hatás nagyon eltérő különböző irányokban és a sugár-irányban mért szemcse méret változásával. Mivel nem létezik egyszerű átlagolási módszer (orientáció és méret szerint) e dinamikus hatás itt (a CBED-vel ellentétben) zavaró, csökkentendő. Kísérleti minimalizálására csak vékony (t<30nm) igazán nanoméretű (<10-20nm) kristályszemcsékből álló vékonyrétegek fázisösszetételét mérjük. Az így csökkentett dinamikus hatást egyszerűsített korrekciós eljárással (kétsugaras közelítésű Blackman-korrekcióval) vesszük figyelembe. A preferált orientáció-eloszlásból módszerünk az egytengelyű textúrát tudja kezelni. A hátteret és csúcsokat tartalmazó modellünk paramétereit a mért eloszláshoz illesztésből egy fél-globális minimalizáló eljárás (,,downhill SIMPLEX") segítségével határozzuk meg. Módszerünk lényeges része a javasolt mérési protokoll, ami a reprodukálhatóságot is a szokásoshoz képest egy nagyságrenddel megnöveli.

A nanocsemcsékben, illetve amorf anyagban jelen levő közeli rendet az amorf diffrakció feldolgozásával, Fourier-transzformálással kapjuk. Mivel a parciális párkorrelációkat nem tudjuk külön-külön mérni, csak a burkolójukat, ezért csak kevés atomot tartalmazó, egyfázisú rendszerekre alkalmazható önmagában. A kísérleti elrendezés, eszközök és kísérleti paraméterek hatása, ezek hibáinak kiküszöbölése itt is alapvetően megszabja, hogy mennyire kaphatunk jó eredményt.


  • [Fizinfo] Ortvay kollokvium, Szommer Peter, 10/04/2013

Archive powered by MHonArc 2.6.19+.

Top of Page